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當(dāng)前位置:首頁(yè)  /  產(chǎn)品中心  /  其他專用儀器  /  測(cè)定儀  /  H11896夫蘭克赫茲實(shí)驗(yàn)儀

夫蘭克赫茲實(shí)驗(yàn)儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

夫蘭克赫茲實(shí)驗(yàn)儀充氬夫蘭克-赫茲管(無(wú)需加熱),點(diǎn)測(cè)譜峰(谷)數(shù)≥7,示波器觀測(cè)譜峰(谷)數(shù)≥7,實(shí)驗(yàn)面板圖示法表示,5塊LED數(shù)字面板盡數(shù)顯示實(shí)驗(yàn)參數(shù),各參數(shù)表頭獨(dú)立,清晰直觀、穩(wěn)定可靠,手動(dòng)、半自動(dòng)、微機(jī)實(shí)驗(yàn)方式齊全。

產(chǎn)品型號(hào):H11896
更新時(shí)間:2024-10-12
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:470

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,交通,汽車,電氣點(diǎn)測(cè)譜峰(谷)數(shù)≥7,

夫蘭克赫茲實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào):H11896
夫蘭克赫茲實(shí)驗(yàn)儀充氬夫蘭克-赫茲管(無(wú)需加熱),點(diǎn)測(cè)譜峰(谷)數(shù)≥7,示波器觀測(cè)譜峰(谷)數(shù)≥7,實(shí)驗(yàn)面板圖示法表示,5塊LED數(shù)字面板盡數(shù)顯示實(shí)驗(yàn)參數(shù),各參數(shù)表頭獨(dú)立,清晰直觀、穩(wěn)定可靠,手動(dòng)、半自動(dòng)、微機(jī)實(shí)驗(yàn)方式齊全。


2. 光電效應(yīng)(普朗克常數(shù))實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào):H11895
光電管靈敏度≥1mA/Lm,暗電流≤10  -12A;
零飄≤0.2%(滿度讀數(shù),10 A檔,預(yù)熱20分種后,正常環(huán)境下30分鐘內(nèi)測(cè)得);3位半LED顯示,電流最小顯示10 A,電壓最小顯示1mV,所以可以采用“零電流法"或“補(bǔ)償法"精確測(cè)出截止電壓

 

3.納米微粒制備實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào):H11891  

參照電阻加熱蒸發(fā)法制備超微顆粒的原理,進(jìn)行相關(guān)的金屬、氧化物、高分子材料及其他材料的超微顆粒制備實(shí)驗(yàn)或演示

一、基本原理

納米科學(xué)技術(shù)(Nano-ST)是20世紀(jì)80年代末期剛剛誕生并正在迅速發(fā)展的新科技。它是研究由尺寸在0.1~100納米(nm)之間的物質(zhì)組成體系的運(yùn)動(dòng)規(guī)律和相互作用以及可能的實(shí)際應(yīng)用中的技術(shù)問(wèn)題的科學(xué)技術(shù),它是高度交叉的綜合性學(xué)科,也是一個(gè)融前沿科學(xué)和高技術(shù)于一體的完整體系。

在整個(gè)納米科技的發(fā)展過(guò)程中,納米微粒的制備和微粒性質(zhì)的研究是最早開(kāi)展的。

微粒制備的方法很多,按制備方法可分為物理方法和化學(xué)方法。按制備路經(jīng)分,可分為粉碎法和聚集法。

本實(shí)驗(yàn)儀采用電阻加熱,氣體冷凝法制備納米微粒。

圖中顯示蒸汽冷凝法制備納米微粒的過(guò)程。首先利用抽氣泵(真空泵)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行真空抽吸,并利用惰性氣體進(jìn)行置換。惰性氣體為高純Ar、He等,有些情形也可以考慮用N2氣。經(jīng)過(guò)幾次置換后,將真空反應(yīng)室內(nèi)保護(hù)氣的氣壓調(diào)節(jié)控制至所需的參數(shù)范圍,通常約為0.1kPa至10kPa范圍,與所需粒子粒徑有關(guān)。當(dāng)原材料被加熱至蒸發(fā)溫度時(shí)蒸發(fā)成氣相。氣相的原材料原子與惰性氣體的原子(或分子)碰撞,迅速降低能量而驟然冷卻。驟冷使得原材料的蒸汽中形成很高的局域過(guò)飽和,非常有利于成核。成核與生長(zhǎng)過(guò)程都是在極短的時(shí)間內(nèi)發(fā)生的。首先形成原子簇,然后繼續(xù)生長(zhǎng)成納米微晶,最終在收集器上收集到納米粒子。

二、儀器組成

如圖所示

納米微粒制備實(shí)驗(yàn)儀外型圖   儀器照片

實(shí)驗(yàn)儀器:

玻璃真空罩G置于儀器頂部真空橡皮圈的上方。平時(shí)真空罩內(nèi)保持一定程度的低氣壓,以維護(hù)系統(tǒng)的清潔。當(dāng)需要制備微粒時(shí),打開(kāi)閥門V2讓空氣進(jìn)入真空室,使得真空室內(nèi)外氣壓相近即可掀開(kāi)真空罩。真空罩下方真空室底盤P的上部倒置了一只玻璃燒杯F,用作納米微粒的收集器。兩個(gè)銅電極I之間可以接上隨機(jī)附帶的螺旋狀鎢絲H。銅電極接至蒸發(fā)速率控制單元,若在真空狀態(tài)下或低氣壓惰性氣體狀態(tài)下啟動(dòng)該單元,鎢絲上即通過(guò)電流并可獲得1000℃ 以上的高溫。真空底盤P開(kāi)有四個(gè)孔,孔的下方分別接有氣體壓力傳感器E,以及連結(jié)閥門V1、V2和電磁閥Ve的管道。氣體壓力傳感器E連結(jié)至真空度測(cè)量單元,并在數(shù)字顯示表M1上直接顯示實(shí)驗(yàn)過(guò)程中真空室內(nèi)的氣體壓力。閥門V1通過(guò)一管道與儀器后側(cè)惰性氣體接口連結(jié),實(shí)驗(yàn)時(shí)可利用V1調(diào)整氣體壓力,亦可借助Ve調(diào)整壓力。閥門V2的另一端直通大氣,主要為打開(kāi)鐘罩而設(shè)立。電磁閥Ve的另一端接至抽氣單元并由該單元實(shí)行抽氣的自動(dòng)控制,以保證抽氣的順利進(jìn)行并排除真空泵油倒灌進(jìn)入真空室。蒸發(fā)控制單元的加熱功率控制旋鈕置于儀器面板上。調(diào)節(jié)加熱器時(shí)數(shù)字顯示表M2直接顯示加熱功率。

三、主要技術(shù)指標(biāo)

真空度<0.01KPa

氣體壓力測(cè)量范圍0.01KPa ~120KPa   四位半數(shù)字顯示

加熱功率0  ~200W

功率測(cè)量  三位半數(shù)字顯示

電源  220V  50Hz

 

四、操作步驟

1.準(zhǔn)備工作

(1)檢查儀器系統(tǒng)的電源接線、惰性氣體連結(jié)管道是否正常。惰性氣體最好用高純Ar氣,亦可考慮使用化學(xué)性質(zhì)不活潑的高純N2氣。

(2)利用脫脂白綢布、分析純酒精、仔細(xì)擦凈真空罩以及罩內(nèi)的底盤、電極和燒杯。

(3)將螺旋狀鎢絲接至銅電極。

(4)從樣品盒中取出銅片(用于納米銅粉制備),在鎢絲的每一圈上掛一片,罩上燒杯。

(5)罩上真空罩,關(guān)閉閥門V1、V2,將加熱功率旋鈕沿逆時(shí)針?lè)较蛐磷钚?,合上電源總開(kāi)關(guān)S1。此時(shí)真空度顯示器顯示出與大氣壓相當(dāng)?shù)臄?shù)值,而加熱功率顯示值為零。由于HT-218預(yù)置了不當(dāng)操作報(bào)警,如果加熱功率旋鈕未調(diào)節(jié)至最小,蜂鳴器將持續(xù)發(fā)出信號(hào)直至糾正為止。

(6)合上開(kāi)關(guān)S2,此時(shí)抽氣單元開(kāi)始工作,電磁閉Ve自動(dòng)接通,真空室內(nèi)壓力下降。下降至一定值時(shí)關(guān)閉S2,觀察真空度是否基本穩(wěn)定在該值附近,如果真空度持續(xù)變差,表明存在漏氣因素,檢查V1、V2是否關(guān)閉。正常情況下不應(yīng)漏氣。

(7)打開(kāi)閥門V1,此時(shí)惰性氣進(jìn)入真空室,氣壓隨之變大。

(8)熟練上述抽氣與供氣的操作過(guò)程,直至可以按實(shí)驗(yàn)的要求調(diào)節(jié)氣體壓力。

(9)準(zhǔn)備好備用的干凈毛刷和收集納米微粉的容器。

2.制備銅納米微粒。

(1)關(guān)閉V1、V2閥門,對(duì)真空室抽氣至0.05kPa附近。

(2)利用氬氣(或氮?dú)猓_洗真空室。打開(kāi)閥門V1使氬氣(或氮?dú)猓┻M(jìn)入真空室,邊抽氣邊進(jìn)氣(氬氣或氮?dú)猓┘s5分鐘。

(3)關(guān)閉閥V1,觀察真空度至0.13kPa附近時(shí)關(guān)閉S2,停止抽氣。此時(shí)真空度應(yīng)基本穩(wěn)定在0.13kPa附近。

(4)沿順時(shí)針?lè)较蚓徛D(zhuǎn)加熱功率旋鈕,觀察加熱功率顯示器,同時(shí)關(guān)注鎢絲。隨著加熱功率的逐漸增大,鎢絲逐漸發(fā)紅進(jìn)而變亮。當(dāng)溫度達(dá)到銅片(或其它材料)的熔點(diǎn)時(shí)銅片熔化,并由于表面張力的原因,浸潤(rùn)至鎢絲上。

(5)繼續(xù)加大加熱功率時(shí)可以見(jiàn)到用作收集器的燒杯表面變黑,表明蒸發(fā)已經(jīng)開(kāi)始。隨著蒸發(fā)過(guò)程的進(jìn)展,鎢絲表面的銅液越來(lái)越少,最終全部蒸發(fā)掉,此時(shí)應(yīng)立即將加熱功率調(diào)至最小。

(6)打開(kāi)閥門V2使空氣進(jìn)入真空室,當(dāng)壓力與大氣壓最近時(shí),小心移開(kāi)真空罩,取下作為收集罩的燒杯。用刷子輕輕地將一層黑色粉末刷至燒杯底部再倒入備好的容器,貼上標(biāo)簽。收集到的細(xì)粉即是納米銅粉。

(7)在2×0.13kPa,5×0.13kPa,10×0.13kPa及30×0.13kPa處重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)步驟制備,并記錄每次蒸發(fā)時(shí)的加熱功率,觀察每次制備時(shí)蒸發(fā)情況有何差異。

 

 

 

4.固體數(shù)字熔點(diǎn)儀 數(shù)字熔點(diǎn)儀 型號(hào):H11887  
用于觀察和測(cè)量固體材料的熔化特性,進(jìn)而分析判斷單質(zhì)材料的類型和分析判斷二組分體系熔解特性并獲取該組分體系的相圖。真空爐透明,目視熔化過(guò)程,無(wú)煙霧等有害氣體產(chǎn)生。恒流源、毫伏表均采用數(shù)字顯示。
功能:
H11887  -1型數(shù)字熔點(diǎn)儀是為大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)和物化實(shí)驗(yàn)課程用于觀察和測(cè)量固體材料的熔解特性而專門設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器。利用本儀器測(cè)量熔化了的固體樣品在均勻冷卻過(guò)程中的溫度——時(shí)間冷卻曲線(亦稱步冷曲線),可以分析和判斷單質(zhì)材料的類型(晶體、非晶體),測(cè)量晶體材料的熔點(diǎn),分析和判斷二組份體系熔解特性并獲取該組份體系的相圖。
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儀器特點(diǎn):
???? 1.? 材料樣品爐真空透明,目視熔化過(guò)程,無(wú)煙霧等有害氣體產(chǎn)生;
???? 2.? 有完善的多級(jí)控溫裝置,安全可靠;
???? 3.? 樣品爐爐溫升、降過(guò)程直接采用數(shù)字溫度表顯示,直觀明了;
???? 4.? 計(jì)時(shí)器提示音有三檔可選。
技術(shù)參數(shù):
1、熔化爐加熱功率 :300W;
2、溫度范圍 : 0~500℃。
? 3、數(shù)字控溫溫度計(jì):測(cè)量范圍0~500℃,? 控溫設(shè)定范圍 20~500℃。
4? 計(jì)時(shí)器計(jì)時(shí)范圍 :1~99999秒,5位數(shù)顯,
5? 提示音間隔 :? 3秒、5 秒、10 秒、三檔可選
6、電源 AC 220V? 50Hz? 2A。

 

 

5.鐵電體電滯回線測(cè)量?jī)x 型號(hào):H11884  
電滯回線測(cè)量是檢測(cè)鐵電體的一種主要手段?!癟F_DH1鐵電體電滯回線測(cè)量?jī)x"針對(duì)教學(xué)需求而設(shè)計(jì)的,并且也可以應(yīng)用到科研領(lǐng)域。
主要特點(diǎn):內(nèi)含微處理器、程控放大器;設(shè)有安全保護(hù)裝置;高速數(shù)據(jù)接口;精制樣品盒和樣品臺(tái);軟件功能豐富。

以上參數(shù)資料與圖片相對(duì)應(yīng)



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